介質(zhì)損耗試驗的目的

  介質(zhì)損耗試驗的目的是通過(guò)測量介質(zhì)損耗因數來(lái)判斷設備絕緣性能。一般使用西林電橋、電流比較型電橋、M型介質(zhì)試驗器等儀器進(jìn)行試驗。

測量介質(zhì)損耗因數在預防性試驗中是*的項目。因為電氣設備介質(zhì)損耗因數太大，會(huì )使設備絕緣在交流電壓作用下，許多能量以熱的形式損耗，產(chǎn)生的熱量將升高電氣設備絕緣的溫度，使絕緣老化，甚至造成絕緣熱擊穿。

絕緣能力的下降直接反映為介質(zhì)損耗因數的增大。進(jìn)一步就可以分析絕緣下降的原因，如：絕緣受潮、絕緣油受污染、老化變質(zhì)等等。

所以，在出廠(chǎng)試驗時(shí)要進(jìn)行介質(zhì)損耗的試驗，運行中的電氣設備亦要進(jìn)行此種試驗。測量介質(zhì)損耗的同時(shí)，也能得到試品的電容量。電容量的明顯變化，反映了多個(gè)電容中的一個(gè)或幾個(gè)發(fā)生短路、斷路。

擴展資料

在交流電壓作用下，電介質(zhì)要消耗部分電能，這部分電能將轉變?yōu)闊崮墚a(chǎn)生損耗。這種能量電介質(zhì)的損耗。

當電介質(zhì)上施加交流電壓時(shí)，電介質(zhì)中的電壓和電流間存在相角差Ψ，Ψ的余角δ稱(chēng)為介質(zhì)損耗角，δ的正切tgδ稱(chēng)為介質(zhì)損耗角正切。

tgδ值是用來(lái)衡量電介質(zhì)損耗的參數。儀器測量線(xiàn)路包括一標準回路（Cn）和一被試回路（Cx）。

標準回路由內置高穩定度標準電容器與測量線(xiàn)路組成，被試回路由被試品和測量線(xiàn)路組成。測量線(xiàn)路由取樣電阻與前置放大器和A/D轉換器組成。

通過(guò)測量電路分別測得標準回路電流與被試回路電流幅值及其相位等，再由單片機運用數字化實(shí)時(shí)采集方法，通過(guò)矢量運算便可得出試品的電容值和介質(zhì)損耗正切值。